简要描述:EM TEST ACS 503N 三相AC电压源ACS 503N 系列是用于谐波和闪烁测试的叁相交流源。它既符合 EN / IEC 61000-3-2,EN / IEC 61000-3-3,JIS C 61000-3-2标准对谐波和闪烁的测试要求,又能满足EN / IEC 61000-3-11 和 EN / IEC 61000-3-12 标准对于每相标称电流大于 16 A 的被试设备进行测量的要
产物分类
Product Category详细介绍
品牌 | 其他品牌 | 应用领域 | 能源,电子,交通,汽车,电气 |
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ACS 503N 系列是用于谐波和闪烁测试的叁相交流源。它既符合 EN / IEC 61000-3-2,EN / IEC 61000-3-3,JIS C 61000-3-2标准对谐波和闪烁的测试要求,又能满足EN / IEC 61000-3-11 和 EN / IEC 61000-3-12 标准对于每相标称电流大于 16 A 的被试设备进行测量的要求。
ACS 503N 系列能够提供完美而稳定的正弦电压信号,并能根据需求调整频率和电压,以完成全兼容的谐波和闪烁分析测试。
基本频率范围 40 Hz - 80 Hz
低失真
电压稳定度高
输出功率 16 kVA - 90 kVA (取决于型号)
输出电压高 300 V(p-n)
抗冲击电流能力
可通过 RS232 接口由 DPA 503N 远程控制
用于谐波和闪烁测试的端叁相交流源
ACS 503N 系列是用于谐波和闪烁测试的叁相交流源。它既符合 EN / IEC 61000-3-2,EN / IEC 61000-3-3,JIS C 61000-3-2
标准对谐波和闪烁的测试要求,又能满足EN / IEC 61000-3-11 和 EN / IEC 61000-3-12 标准对于每相标称电流大于 16 A 的
被试设备进行测量的要求。
ACS 503N 系列能够提供完美而稳定的正弦电压信号,并能根据需求调整频率和电压,以完成全兼容的谐波和闪烁分析测试。
EN 61000-3-11
EN 61000-3-12
EN 61000-3-2
EN 61000-3-3
IEC 61000-3-11
IEC 61000-3-12 Ed.2:2011
IEC 61000-3-2
IEC 61000-3-3
JIS C 61000-3-2
用于谐波和闪烁测试的正弦电压
依据标准要求,谐波和闪烁测试需要一个纯净的AC源。ACS 503N 系列能够输出失真率低于 0.1% 的正弦电压。即使负载发生变化,电压的稳定性都能保持在 0.1% 的波动范围内。
无论供电电源条件如何,ACS 503N 系列都能按照标准要求为测试提供稳定而纯净的正弦电压信号和频率。15,000VA 至 90,000VA 的功率范围(取决于具体型号)使得 ACS 503N 系列能够按照EN/IEC 61000-3-2、EN/IEC 61000-3-3 和 JIS C 61000-3-2 标准要求,对标称电流达到 16A 至 75A 的被测设备进行测量。
ACS 503N 系列交流电压源特别设计了过热、过流、过压和欠压的电子保护装置。与 DPA 503N 谐波和闪烁分析仪配合使用时,可以通过 RS 232 接口,由 dpa.control 软件对 ACS 503N 系列实现*远程控制。
Available ACS 503N-models
ACS 503N16 - 3-Phase AC voltage source, 16kVA
ACS 503N30 - 3-Phase AC voltage source, 30kVA
ACS 503N60 - 3-Phase AC voltage source, 60kVA
ACS 503N90 - 3-Phase AC voltage source, 90kVA
DPA 503N - 谐波和闪烁测试数字功率分析仪
DPA 503N - 谐波和闪烁数字功率分析仪放大DPA 503N 是一台*新 IEC/EN 61000-3-2、IEC/EN 61000-3-3、JIS C 61000-3-2、IEC/EN 61000-3-11 和 IEC/EN 61000-3-12 标准的全兼容谐波和闪烁分析仪。
AIF 503N-系列 - 符合 IEC/EN 61000-3-3 标准的闪烁阻抗
AIF 503N-系列 - 符合 IEC/EN 61000-3-3 标准的闪烁阻抗放大AIF 503N 系列三相闪烁阻抗能够提供两种不同的阻抗值。其中 Zref 值作为闪烁阻抗用于完成 EN/IEC 61000-3-3 和 IEC 60725 标准要求的测试。而 Ztest 阻抗值则用于按照 EN/IEC 61000-3-11 标准要求,对需要连接到供电电流大于 100A 的公共低压配电系统上的被测设备进行测试。
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