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射频传导抗扰度测试系统

简要描述:NSG4070D-A230M-50射频传导抗扰度测试系统作为一款解决方案,与较早型号相比,NSG 4070D 系列在测试精度、性能和多功能性等各方面都有极大的提升,旨在满足汽车、医疗、工业和消费电子等行业各种严苛的测试要求。

  • 产物型号:NSG4070D-A230M-50
  • 厂商性质:代理商
  • 更新时间:2025-02-21
  • 访&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;问&苍产蝉辫;&苍产蝉辫;量:159

详细介绍

品牌其他品牌应用领域电子/电池,道路/轨道/船舶,汽车及零部件,电气

NSG4070D-A230M-50 射频传导抗扰度测试系统

AMETEK CTS 非常高兴地向广大客户发布 Teseq 品牌在 EMC抗扰度测试领域的全新产物——NSG 4070D 系列射频传导抗扰度测试系统


射频传导抗扰度测试系统


与较早型号相比,NSG 4070D 系列在测试精度、性能和多功能性等各方面都有极大的提升,旨在满足汽车、医疗、工业和消费电子等行业各种严苛的测试要求。


NSG4070D-A230M-50射频传导抗扰度测试系统

主要特点



作为一款先进的一体化机解决方案,NSG 4070D 系列包括以下非常突出的特点:


集成了信号发生器

可以产生 4 kHz - 1 GHz 的正弦信号,输出电平范围为 -60 dBm 至 +10 dBm。


调制能力

支持抗扰度标准常用的幅度调制(础惭)和脉冲调制(笔惭),可灵活根据标准设置调制参数。


信号源的输出电平范围更宽

提供 - 60dbm 至 + 10dbm 范围内的输出功率,带来更大的灵活性,适应更加多样化的测试条件。


内置了射频功放模块

提供了覆盖不同频率范围和不同线性功率的多种功放模块,满足不同应用的需要。


支持外置功率放大器

还可集成外部的独立的射频功放以便构成系统,实现更宽的频率范围和/或更高的输出功率,从而满足扩展的测试要求。


灵活的外置设备切换功能

支持通过射频开关例如 SW 4070 开关单元,方便切换外部设备和电流监测探头例如 MD 4070 等设备。


内置了多达 5 路的功率测量单元

3 路外部测量、2 路内部测量,可以轻松实现对内部的功放模块或者外部功放的前向和反向功率、电流等参数的测量。


EUT 监测能力

标配对被测物 EUT 的监测功能,可以通过数字 TTL 输入端口、24 V 数字输入端口和光纤输入端口来完成。此外,它可以监测高达 24 V 的模拟电压,精度为 6 mV,可以确保对设备性能的全面评估。


广泛的应用范围

可覆盖广泛的不同行业的标准,适用于汽车、医疗、军标、工业设备和消费电子产物。


主要变化



与以前的 NSG 4070 系列相比,我们对新的 NSG 4070D 系列进行了显著的改进和提升。

AMETEK 全新设计

对主要部件进行了全面的重新设计,提高了整体产物的性能和可靠性。


重新定义了内置的功率模块的可选型号

提供四种功率模块,满足不同的测试需求。


射频传导抗扰度测试系统


3U 高度的紧凑型设计

所有型号均只有 3U 的机箱高度,不但适合实验室使用,还可便携到外场测试。


当代风格的操作界面

全新的用户界面,设计更精简、直观,操作更容易,带来用户体验的提升。


支持低频磁场抗扰度测试

其中两个型号可支持 IEC 61000-4-39 的低频磁场抗扰度测试。


可直接调用的相关标准的测试

已经编好相关的测试程序,直接调用即可,涵盖工业、汽车、和航空电子测试的主要应用。


插入损耗测量功能

为测量无源器件的插入损耗提供了专用的测量功能。




NSG 4070D 系列的发布,旨在增强了产物的性能和功能,可靠性,标准的覆盖范围,用户操作使用的方便性,专为满足用户不断变化的需求而设计。










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