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JEM-ARM200FNEOARM透射电子显微镜NEOARM” 标配了日本电子独自开发的冷场发射电子枪（Cold-FEG）和全新的高阶球差校正器（ASCOR）。无论是在200kV的高加速电压还是在30kV的低加速电压下，均能实现原子级分辨率的观察与分析。同时还配备了自动像差校正系统，可以自动进行快速准确的像差校正。

JEM-Z300FSC场发射冷冻电子显微镜 场发射冷冻电子显微镜JEM-Z300FSC (CRYO ARM™ 300)配备了冷场发射电子枪、柱体内能量过滤器(Ω能量过滤器)、侧插式液氮冷却样品台和自动样品交换系统，能够在冷冻低温下观察生物大分子。样品交换系统内最多可以存储12个样品，可以任意取出和交换一个或数个样品，能灵活地进行测试排序。

JEM-ACE200F高效分析型电子显微镜 JEM-ACE200F将JEM-ARM200F和JEM-F200的硬件技术整合在一起，实现了高度稳定性和高分辨率，以精炼的外观设计呈现。该设备做成了操作流程菜单，按照该菜单，操作人员即使不直接操作设备也能采集到数据。

JEM-ARM300F2原子分辨率分析型电子显微镜 JEM-ARM300F2是GRAND ARMTM的第二代产物，该设备在性能上有了进一步的提高，无论采用怎样的加速电压都能获得超高空间分辨率图像和高灵敏度的元素分析。

JEM-3300 CRYO ARM™ 300 II 场发射冷冻透射电子显微镜 CRYO ARM™ 300 II 是一款低温冷冻透射电子显微镜，专门用于观察如蛋白质等对电子束敏感的样品，可进行单颗粒分析、断层扫描和MicroED等实验。

闯贰惭-窜200惭贵无磁场透射电子显微镜 JEM-Z200MF是一款无磁场物镜的电子显微镜，可以在不向样品施加强磁场的情况下实现高分辨率观察。结合高次像差校正器，可以实现原子级分辨率成像。